近幾年隨著汽車向電動(dòng)化、智能化和網(wǎng)聯(lián)化方向發(fā)展，汽車有限的空間內(nèi)集成了越來越多的電子設(shè)備，這些電子設(shè)備也帶來越來越多的電磁兼容問題。為了應(yīng)對(duì)電磁兼容問題，電子零部件在裝上整車前必須進(jìn)行電磁兼容測(cè)試。其中大電流注入(Bulk Current Injection,BCI)法因僅需在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行，成本較必須在電波暗室進(jìn)行的輻射抗擾度低得多，同時(shí)不侵入被測(cè)設(shè)備的特點(diǎn)，成為電子部件驗(yàn)證的必選方法。

大電流注入(BCI)法是使用電流注入探頭將騷擾信號(hào)直接耦合到線束上進(jìn)行抗擾度試驗(yàn)的一種方法。注入探頭為電流互感器，被測(cè)裝置(EUT)的線束穿過其中。通過改變?cè)囼?yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和感應(yīng)騷擾的頻率進(jìn)行抗擾試驗(yàn)。

　　【汽車大電流注入BCI測(cè)試試驗(yàn)方法】

　　采用大電流注入法進(jìn)行抗擾度測(cè)試的測(cè)試方法一般分為替代法和閉環(huán)法。

　　替代法是指在使用電流注入鉗校準(zhǔn)裝置得到相應(yīng)測(cè)試電平對(duì)應(yīng)的信號(hào)源電平后，測(cè)試時(shí)，直接輸出信號(hào)源電平。要求在離EUT 150mm、450mm和750mm等三個(gè)位置，放置注入鉗進(jìn)行測(cè)試。如圖一所示。

圖一 BCI試驗(yàn)布置-替代法

　　閉環(huán)法是指：在使用電流注入鉗校準(zhǔn)裝置得到相應(yīng)測(cè)試電平對(duì)應(yīng)的信號(hào)源電平后(記錄此時(shí)的凈功率為校準(zhǔn)功率)，測(cè)試時(shí)，使用電流探頭監(jiān)視實(shí)際注入的電流，如果注入功率比校準(zhǔn)功率大4倍，測(cè)量到的注入電流還是沒有達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電流，就停止加大注入功率。要求注入鉗放置在距離EUT 900mm 處，電流探頭在50mm 處。如圖二所示。

圖二 BCI試驗(yàn)布置-閉環(huán)法

　　替代法和閉環(huán)法存在以下差異：

　　A， 替代法的試驗(yàn)線束長(zhǎng)度為1700mm，閉環(huán)法的試驗(yàn)線束長(zhǎng)度為1000mm;

　　B， 替代法的電流注入位置為150mm、450mm、750mm，而閉環(huán)法的電流注入位置為900mm;

　　C， 閉環(huán)法必須使用電流監(jiān)測(cè)探頭，探頭位于50mm處，而替代法測(cè)試中一般不使用電流監(jiān)測(cè)探頭;

　　D， 替代法是一種基于給定注入功率的開環(huán)測(cè)試，而閉環(huán)法則是通過電流監(jiān)測(cè)探頭實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的閉環(huán)測(cè)試。

　　【汽車大電流注入BCI測(cè)試試驗(yàn)裝置】

　　該試驗(yàn)需在屏蔽室中進(jìn)行，所需的主要試驗(yàn)設(shè)備有：信號(hào)源(帶調(diào)制功能)、功率放大器、功率計(jì)、人工電源網(wǎng)絡(luò)、電流注入探頭、電流注入探頭校準(zhǔn)夾具、電流監(jiān)測(cè)探頭等。圖三為測(cè)試系統(tǒng)連接框圖。

圖三 BCI測(cè)試系統(tǒng)連接框圖

　　【試驗(yàn)布置】

　　在測(cè)試平臺(tái)的布局中，被測(cè)設(shè)備及線束放在接地平板上方50mm處，其中，接地平板應(yīng)采用至少0.5mm 厚的銅板、黃銅或者鍍鋅鋼板。最小寬度為1000mm，最小長(zhǎng)度為 2000mm，或者比整個(gè)設(shè)備的各邊大200mm，取兩者中尺寸較大的平板。接地平板(試驗(yàn)臺(tái))的高度應(yīng)位于地面上(900±100)mm 處，接地平板與屏蔽殼體電氣搭接，接地銅帶之間的距離為300mm，直流電阻不得超過2.5mΩ。在線束和銅板之間由厚度為50mm，相對(duì)介電常數(shù)(≤ 1.4)的材料作為支撐。電源通過兩個(gè)人工源網(wǎng)絡(luò)給被測(cè)設(shè)備供電，其中，一個(gè)人工源網(wǎng)絡(luò)與電源的正極相連，另一個(gè)與電源的負(fù)極相連。圖四、圖五為試驗(yàn)布置圖。

圖四 試驗(yàn)布置-側(cè)視圖

圖五 試驗(yàn)布置-俯視圖

　　【汽車大電流注入BCI測(cè)試試驗(yàn)過程】

　　5.1 替代法試驗(yàn)過程

　　替代法使用前向功率做為校準(zhǔn)和測(cè)試的參考基準(zhǔn)，使用未調(diào)制的正弦波進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　5.1.1 校準(zhǔn)

　　根據(jù)規(guī)定的試驗(yàn)等級(jí)(電流)進(jìn)行校準(zhǔn)，記錄各個(gè)試驗(yàn)頻率下在50Ω校準(zhǔn)夾具上產(chǎn)生規(guī)定電流所需的前向功率。校準(zhǔn)夾具的一端連接50Ω負(fù)載(大功率)，另一端連接50Ω射頻功率計(jì)，并串接相應(yīng)功率的50Ω衰減器來保護(hù)功率計(jì)。在夾具上施加試驗(yàn)信號(hào)電平并記錄相應(yīng)的前向功率。這種方法標(biāo)定了試驗(yàn)前大電流注入系統(tǒng)預(yù)定功率和電流的關(guān)系。如圖六所示。

圖六 替代法校準(zhǔn)布置

　　5.1.2 測(cè)試

　　在對(duì)連接線束后的EUT進(jìn)行測(cè)試時(shí)，把預(yù)定功率施加到注入探頭里。應(yīng)注意，監(jiān)測(cè)到的用于注入探頭的功率為預(yù)定功率。測(cè)試布置依據(jù)圖一所示。

　　5.2 閉環(huán)法試驗(yàn)過程

　　閉環(huán)法使用前向功率做為校準(zhǔn)和測(cè)試的參考基準(zhǔn)，使用未調(diào)制的正弦波進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　5.2.1 校準(zhǔn)

　　用于確定EUT測(cè)試的功率限值。根據(jù)規(guī)定的試驗(yàn)等級(jí)(電流)在測(cè)試前進(jìn)行校準(zhǔn), 確定各個(gè)試驗(yàn)頻率在50Ω校準(zhǔn)夾具上產(chǎn)生規(guī)定電流所需的前向功率。校準(zhǔn)夾具的一端連接50Ω負(fù)載(大功率)，另一端連接50Ω射頻功率計(jì)，并串接相應(yīng)功率的50Ω衰減器來保護(hù)功率計(jì)。在夾具上施加試驗(yàn)信號(hào)電平并記錄相應(yīng)的前向功率。這種方法標(biāo)定了試驗(yàn)前大電流注入系統(tǒng)預(yù)定功率和電流的關(guān)系。如圖六所示。

　　5.2.2 測(cè)試

　　測(cè)試時(shí)，使用電流探頭監(jiān)視實(shí)際注入的電流，如果注入功率比校準(zhǔn)功率大4倍，測(cè)量到的注入電流還是沒有達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電流，就停止加大注入功率。測(cè)試布置依據(jù)圖二所示。

大電流注入法產(chǎn)品配置：